AiST DANO T

DANO T

8-Stage TDI X線ラインディテクタ

DANO T Seriesは、8-Stage TDI構造を採用した高感度X線ラインディテクタです。
繰り返しスキャン信号を積算することで、低信号条件でもより鮮明な画像を提供し、0.2 mmピクセルピッチによる高解像度検査に対応します。
食品、電子部品、バッテリーなど、さまざまな産業検査環境で微細な異物や内部欠陥をより精密に可視化します。

ディテクタ画像

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外形図

図面をクリックすると寸法を詳しく確認できます。

モデル	DANO T256	DANO T410	DANO T620
タイプ	8-Stage TDI X線ラインディテクタ
X線エネルギー範囲	30–160 kV
シンチレータ	GOS (DRZ-HI, タングステンシールド)
有効領域 (mm)	256.9	411.1	616.7
ピクセルピッチ (mm)	0.2
ピクセル数	1280	2048	3072
TDIステージ	8
A/Dコンバータ	16-bit (ENOB 13.3 bits)
ダイナミックレンジ	52,000+
スキャン速度 (m/min)	2–66
保護等級	IPx6
動作温度 (°C)	0–40
保存温度 (°C)	-10–50
動作湿度 (%)	30–80
インターフェース	USB 2.0 / USB 3.0（オプション）
電源	DC 12 V
長さ (mm)	298	453	658
幅 (mm)	140
高さ (mm)	35
重量 (kg)	2.1	3.4	5
ソフトウェア	Windows 7 / 10 (x86 / x64), Microsoft Visual C++ SDK
キャリブレーション	Multi-Point 256
画像形式	RAW画像 / CAL画像 (16-bit TIFF)
画像パケット	Line / Frame

主な特長

8-Stage TDI構造
- 低信号条件でもより鮮明な画像を提供 -

TDI構造で繰り返しスキャン信号を積算し、信号感度を高めることで、微細な内部欠陥や異物をより安定して可視化します。
0.2 mm 高解像度ピクセルピッチ
- 微細構造や小さな異物をより明瞭に可視化 -

DANO T Seriesは0.2 mmピクセルピッチを採用し、微細構造、小さな異物、内部欠陥を明瞭に可視化する必要がある精密検査環境に適しています。電子部品、バッテリー、小型包装製品など各種高解像度産業検査に適用できます。
高感度・ワイドダイナミックレンジ
- 低信号条件でも安定した画質を提供 -

16-bit画像処理と52,000+のダイナミックレンジにより、ノイズの影響を抑え、密度特性の異なる対象でも安定した階調表現と鮮明な画質を提供します。
主な検査分野
- 食品、電子部品、バッテリー、精密産業検査に適用 -

高解像度X線画像が求められる食品検査、電子部品検査、バッテリー検査、精密産業検査に適用できます。8-Stage TDI構造と0.2 mmピクセルピッチにより、微細異物、内部欠陥、精密部品構造をより安定して可視化します。
SDK連携サポート
- お客様のX線検査システムへ安定して組み込み可能 -

標準SDKを提供しており、DANO T Seriesをお客様の検査ソフトウェアや装置プラットフォームへ容易に組み込むことができます。