[[FAQ_KO]] 샘플 테스트를 원하시는 경우 AiST TECH로 문의해 주세요. [[/FAQ_KO]] [[FAQ_EN]] If you would like to arrange a sample test, please contact AiST TECH. [[/FAQ_EN]] [[FAQ_JP]] サンプルテストをご希望の場合は、AiST TECHまでお問い合わせください。 [[/FAQ_JP]] [[FAQ_CN]] 如需进行样品测试，请联系AiST TECH。 [[/FAQ_CN]]

[[FAQ_KO]] 검출 성능은 Detector 자체의 성능뿐 아니라 검사 제품의 재질과 두께, 찾으려는 이물질의 크기와 종류, 검사 속도, X-ray 촬영 조건 및 영상 처리 설정 등에 따라 달라질 수 있습니다. [[/FAQ_KO]] [[FAQ_EN]] Detection performance depends not only on the detector itself, but also on the material and thickness of the product, the size and type of the target being detected, inspection speed, X-ray imaging conditions, and image-processing settings. [[/FAQ_EN]] [[FAQ_JP]] 検出性能はディテクタ単体の性能だけでなく、検査する製品の材質や厚さ、検出対象の大きさや種類、検査速度、X線撮影条件、画像処理の設定などによって変わります。 [[/FAQ_JP]] [[FAQ_CN]] 检测性能不仅取决于探测器本身，还会受到被检测产品的材质和厚度、检测目标的大小和种类、检测速度、X射线成像条件以及图像处理设置等因素的影响。 [[/FAQ_CN]]

[[FAQ_KO]] 네. AiST TECH는 고객사의 장비와 Detector를 연동할 수 있도록 SDK를 제공합니다. 또한 Detector 제어와 이미지 취득 및 확인에 사용할 수 있는 전용 Software인 AT-Viewer도 함께 제공합니다. [[/FAQ_KO]] [[FAQ_EN]] Yes. AiST TECH provides an SDK for system integration. We also provide AT-Viewer, dedicated software for detector control, image acquisition, real-time monitoring, and image review. [[/FAQ_EN]] [[FAQ_JP]] はい。AiST TECHでは、システム連携のためのSDKを提供しています。また、ディテクタの制御、画像取得、リアルタイムモニタリング、画像確認に使用できる専用ソフトウェアAT-Viewerも提供しています。 [[/FAQ_JP]] [[FAQ_CN]] 是的。AiST TECH提供用于系统集成的SDK，同时还提供专用软件AT-Viewer，可用于探测器控制、图像采集、实时监控和图像浏览。 [[/FAQ_CN]]

[[FAQ_KO]] 제품과 설정에 따라 대응 가능한 속도가 달라집니다. FLIES C는 0.4 mm Pixel Pitch에서 최대 100 m/min, 0.8 mm Pixel Pitch에서 최대 200 m/min, MiUS D는 최대 100 m/min, DANO T는 최대 66 m/min에 대응합니다. 실제 검사 속도는 검사 대상과 필요한 이미지 품질에 따라 달라질 수 있습니다. [[/FAQ_KO]] [[FAQ_EN]] Supported scan speed varies depending on the detector model and settings. FLIES C supports up to 100 m/min at 0.4 mm pixel pitch and up to 200 m/min at 0.8 mm pixel pitch, MiUS D supports up to 100 m/min, and DANO T supports up to 66 m/min. Actual inspection speed may vary depending on the product and the required image quality. [[/FAQ_EN]] [[FAQ_JP]] 対応可能なスキャン速度は、ディテクタのモデルや設定によって異なります。FLIES Cは0.4 mmのピクセルピッチで最大100 m/min、0.8 mmで最大200 m/min、MiUS Dは最大100 m/min、DANO Tは最大66 m/minに対応しています。実際の検査速度は、検査対象や必要な画像品質によって異なる場合があります。 [[/FAQ_JP]] [[FAQ_CN]] 可支持的扫描速度会根据探测器型号和设置而有所不同。FLIES C在0.4 mm像素间距下最高支持100 m/min，在0.8 mm像素间距下最高支持200 m/min；MiUS D最高支持100 m/min；DANO T最高支持66 m/min。实际检测速度可能会根据检测对象和所需图像质量有所不同。 [[/FAQ_CN]]

[[FAQ_KO]] 검사하려는 제품의 폭보다 충분히 넓은 검사 영역(Active Area)을 가진 Detector를 선택하면 됩니다. AiST TECH는 제품별로 다양한 검사 폭의 모델을 제공하고 있으며, 약 256 mm, 410 mm, 616 mm급 모델 중 필요한 검사 폭에 맞춰 선택할 수 있습니다. [[/FAQ_KO]] [[FAQ_EN]] Choose a detector with an active area (usable detection width) wide enough to cover the product being inspected. AiST TECH offers models with active areas of approximately 256 mm, 410 mm, and 616 mm, allowing customers to select a model that matches the required inspection width. [[/FAQ_EN]] [[FAQ_JP]] 検査する製品の幅を十分にカバーできる検査可能幅（Active Area）を持つディテクタを選びます。AiST TECHでは、約256 mm、410 mm、616 mmのモデルを用意しており、必要な検査幅に合わせて選択できます。 [[/FAQ_JP]] [[FAQ_CN]] 应选择有效探测宽度（Active Area）能够充分覆盖待检测产品宽度的探测器。AiST TECH提供约256 mm、410 mm和616 mm的不同规格，可根据所需检测宽度进行选择。 [[/FAQ_CN]]

[[FAQ_KO]] 검사할 제품의 재질과 두께, 검사 목적, 필요한 해상도, 검사 폭, 생산 속도 등을 기준으로 선택합니다. 일반적인 산업용 검사에는 FLIES C, 서로 구분하기 어려운 물질을 보다 명확하게 구별해야 하는 경우에는 MiUS D, 보다 정밀한 이미지가 필요한 검사에는 DANO T를 선택할 수 있습니다. [[/FAQ_KO]] [[FAQ_EN]] The appropriate detector depends on the product material and thickness, inspection purpose, required resolution, inspection width, and production speed. FLIES C is suitable for general industrial X-ray inspection, MiUS D is suited for applications where difficult-to-distinguish materials need clearer differentiation, and DANO T is suitable when more detailed, high-resolution imaging is required. [[/FAQ_EN]] [[FAQ_JP]] 製品の材質や厚さ、検査目的、必要な解像度、検査幅、生産ライン速度などを基準に選定します。一般的な産業用X線検査にはFLIES C、判別しにくい物質をより明確に識別したい場合にはMiUS D、より精細な画像が必要な検査にはDANO Tが適しています。 [[/FAQ_JP]] [[FAQ_CN]] 选择探测器时，需要综合考虑产品的材质和厚度、检测目的、所需分辨率、检测宽度以及生产线速度等因素。一般工业X射线检测可选择FLIES C；对于需要更清晰地区分难以辨别材料的应用，可选择MiUS D；对于需要更加精细图像的检测，可选择DANO T。 [[/FAQ_CN]]

[[FAQ_KO]] 네. 기존 장비의 연결 방식, 검사 폭, 설치 구조 및 운용 조건이 AiST TECH Detector와 호환되는 경우 적용할 수 있습니다. [[/FAQ_KO]] [[FAQ_EN]] Yes. AiST TECH detectors can be integrated into existing X-ray inspection systems when the interface, inspection width, installation conditions, and operating conditions are compatible. [[/FAQ_EN]] [[FAQ_JP]] はい。接続方式、検査幅、設置条件、運用条件がAiST TECHのディテクタと適合する場合、既存のX線検査装置にも組み込むことができます。 [[/FAQ_JP]] [[FAQ_CN]] 可以。当现有设备的接口方式、检测宽度、安装条件和运行条件与AiST TECH探测器兼容时，可以集成使用。 [[/FAQ_CN]]

[[FAQ_KO]] Single-Energy Detector는 하나의 X-ray 영상 정보를 이용하는 일반적인 방식입니다. Dual-Energy Detector는 서로 다른 에너지 정보를 함께 활용해 일반적인 X-ray 영상에서 구분하기 어려운 물질의 차이를 보다 명확하게 표현할 수 있습니다. AiST TECH의 MiUS D는 Horizontal Dual-Energy 구조를 적용하고 있습니다. [[/FAQ_KO]] [[FAQ_EN]] A Single-Energy detector acquires a single X-ray image for general X-ray inspection. A Dual-Energy detector uses Low-Energy and High-Energy information together to make materials that are difficult to distinguish in conventional X-ray images easier to differentiate. AiST TECH's MiUS D uses a Horizontal Dual-Energy architecture. [[/FAQ_EN]] [[FAQ_JP]] シングルエネルギー方式は、1系統のX線画像データを用いる一般的な検査方式です。デュアルエネルギー方式は、低エネルギーと高エネルギーの情報を組み合わせることで、通常のX線画像では判別しにくい物質の違いをより明確に表現できます。AiST TECHのMiUS Dは、水平型デュアルエネルギー構造を採用しています。 [[/FAQ_JP]] [[FAQ_CN]] 单能方式主要获取单一能量通道的X射线图像数据，用于常规X射线检测。双能方式则结合低能和高能信息，使常规X射线图像中难以区分的材料差异更加清晰。AiST TECH的MiUS D采用水平排列式双能结构。 [[/FAQ_CN]]

[[FAQ_KO]] AiST TECH는 FLIES C, MiUS D, DANO T Series를 제공합니다. FLIES C는 일반적인 산업용 검사에 폭넓게 사용할 수 있는 Single-Energy 방식, MiUS D는 서로 다른 에너지 정보를 활용하는 Dual-Energy 방식, DANO T는 보다 정밀한 이미지가 필요한 검사에 적합한 고해상도 TDI 방식의 X-ray Line Detector입니다. [[/FAQ_KO]] [[FAQ_EN]] AiST TECH offers three main X-ray line detector series: FLIES C, MiUS D, and DANO T. FLIES C is a Single-Energy detector suitable for a wide range of industrial inspection applications. MiUS D is a Dual-Energy detector designed for applications where materials are difficult to distinguish using conventional X-ray imaging. DANO T is a high-resolution TDI detector suited for applications requiring more detailed imaging. [[/FAQ_EN]] [[FAQ_JP]] AiST TECHでは、FLIES C、MiUS D、DANO Tの3つのシリーズを提供しています。FLIES Cは幅広い産業用検査に対応するシングルエネルギー方式、MiUS Dは通常のX線画像では判別しにくい物質の識別に適したデュアルエネルギー方式、DANO Tはより精細な画像が求められる検査に適した高解像度TDI方式のX線ラインディテクタです。 [[/FAQ_JP]] [[FAQ_CN]] AiST TECH提供FLIES C、MiUS D和DANO T三个系列。FLIES C采用单能（Single-Energy）方式，适用于广泛的工业X射线检测应用；MiUS D采用双能（Dual-Energy）方式，适用于需要区分常规X射线图像中难以辨别材料的应用；DANO T采用高分辨率TDI方式，适用于需要更加精细图像的检测应用。 [[/FAQ_CN]]

[[FAQ_KO]] X-ray Line Detector는 제품을 통과한 X-ray 신호를 선(Line) 단위로 연속적으로 측정하는 장치입니다. 생산라인에서 이동하는 제품의 데이터를 연속 취득해 제품 내부 상태를 X-ray 이미지로 확인할 수 있도록 합니다. [[/FAQ_KO]] [[FAQ_EN]] An X-ray line detector continuously captures X-ray signals transmitted through a product and converts them into digital data for X-ray imaging. It is commonly used on production lines to visualize the internal condition of moving products. [[/FAQ_EN]] [[FAQ_JP]] X線ラインディテクタは、製品を透過したX線信号をライン単位で連続的に取得し、X線画像用のデジタルデータとして出力する装置です。生産ライン上を移動する製品の内部状態をX線画像で確認する際に使用されます。 [[/FAQ_JP]] [[FAQ_CN]] X射线线阵探测器是一种逐行连续采集穿透产品后的X射线信号，并输出用于X射线成像的数字数据的设备。常用于生产线上，对移动中的产品内部状态进行X射线成像检测。 [[/FAQ_CN]]